SRT-5100S High Precision Surface Profile Gauge Metric Imperial Conversion Average Calculation for Blasted Surface Testing

Parâmetros (μm): Ra, Rz, Rq, Rt

Comprimento da travessia (mm): 6

Comprimento da amostragem (mm): 0.25, 0.80, 2.50

Duração da avaliação (mm): 1.25, 4.0, 5.0

Parâmetros (μm): Ra, Rz, Rq, Rt

Comprimento da travessia (mm): 6

Comprimento da amostragem (mm): 0.25, 0.80, 2.50

Duração da avaliação (mm): 1.25, 4.0, 5.0

Faixa: 0 μm ao μm 800 (0 mil. a 30 mil.)

Precisão: ± 5% ou ± 5 μm (o que for maior)

Resolução: 1 μm (0,1 mils)

Velocidade de medição: > 30 (leituras por minuto)

Mostrar: LCD

Faixa: 0 ~ 800 ɥm/29.5 mil.

Precisão: ±5%or±5ɥm, (qualquer é o maior)

Resolução: 0.1ɥm/1ɥm

Sensibilidade: A película de ensaio padrão do tipo A1 15/100 ranhuras apresentam-se claramente, melhor do que a nor

Força de elevação: AC ≥ 68,6N (7 kg)

Distância do poste da sonda: 60 mm-205 mm (o intervalo de espaçamento é ajustável)

Fonte luminosa da sonda: luminosidade da luz branca ≥2000Lux; irradiação da lâmpada UV ≥5000μw/cm2