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Detalhes do produto:
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| Faixa de medição: | 0,01μSv/h~500μSv/h | Resposta energética: | 40Kev3Mev |
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| Sensibilidade: | 350 cps/μSv/h | Erro relativo, não mais: | ± 15% |
| Destacar: | Detector de radiação de cintilação NaL,sonda gama de alta sensibilidade,Monitorização da radiação gama X |
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Detector de cintilação NaI da sonda de monitoramento de radiação gama de alta sensibilidade X FJ-3025
Características:
Medição em tempo real da radiação γ e raios X no local de trabalho
Possui uma interface de comunicação 485 e suporta protocolo Modbus
Compatível com equipamento de controle de host ou software de monitoramento de nível superior
Detector cintilador NaI de alta sensibilidade
Especificações Técnicas
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Faixa de medição |
0,01μSv/h~500μSv/h |
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Resposta energética |
40keV~3MeV |
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Sensibilidade |
350 cps/μSv/h |
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Erro relativo, não mais |
±15% |
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Tempo de resposta |
≤1s(10μSv/h) |
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Faixa de temperatura operacional |
-20℃~+50℃ |
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Umidade relativa |
≤98% |
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Tensão de alimentação |
CC 7V~24V |
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Consumo de energia estática |
12V/5mA |
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Dimensões |
Diâmetro 45mm, Comprimento 120mm (excluindo altura do plugue) |
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Peso |
0,6 kg |
Kit de entrega:
Sonda, protocolo de comunicação de dados ou software especializado de análise de dados
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Pessoa de Contato: Ms. Shifen Yuan
Telefone: 8610 82921131,8618610328618
Fax: 86-10-82916893