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Analisador de Espessura de Revestimento Espectrômetro de Fluorescência de Raios-X por Dispersão de Energia HXRF-450S

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Analisador de Espessura de Revestimento Espectrômetro de Fluorescência de Raios-X por Dispersão de Energia HXRF-450S

Analisador de Espessura de Revestimento Espectrômetro de Fluorescência de Raios-X por Dispersão de Energia HXRF-450S
Analisador de Espessura de Revestimento Espectrômetro de Fluorescência de Raios-X por Dispersão de Energia HXRF-450S Analisador de Espessura de Revestimento Espectrômetro de Fluorescência de Raios-X por Dispersão de Energia HXRF-450S

Imagem Grande :  Analisador de Espessura de Revestimento Espectrômetro de Fluorescência de Raios-X por Dispersão de Energia HXRF-450S

Detalhes do produto:
Lugar de origem: China
Marca: HUATEC
Certificação: CE
Número do modelo: HXRF-450S
Condições de Pagamento e Envio:
Quantidade de ordem mínima: 1 unidade
Preço: USD14145/set - USD15990/set
Detalhes da embalagem: Caixa de embalagem de papelão
Tempo de entrega: 10-15 dias úteis após o recebimento do seu pagamento
Termos de pagamento: T/T, Paypal
Habilidade da fonte: 5 conjuntos/mês
Contato

Analisador de Espessura de Revestimento Espectrômetro de Fluorescência de Raios-X por Dispersão de Energia HXRF-450S

descrição
Intervalo do elemento de medição:: Alumínio (Al) - urânio (U) Detector: SDD
Tempo de teste: 10-40s Corrente do tubo: 0-1mA (Controlado por programa)
Alta Pressão: 0-50kV (Controlado por programa) Ampliação: Óptica: 40-60×
Tensão de entrada:: AC220V±10% 50/60 Hz
Destacar:

Analisador de revestimento espectrômetro de fluorescência de raios-X

,

Medição de espessura de revestimento EDXRF

,

Analisador espectrômetro XRF não destrutivo

HXRF-450S Espectrômetro de Fluorescência de Raios-X de Dispersão de Energia Analisador de Espessura de Revestimento
Especificações do produto
Atributo Valor
Faixa de elementos de medição Alumínio (Al) - urânio (U)
Detector SDD
Tempo de ensaio 10-40 anos
Corrente do tubo 0-1mA (controlado por programa)
Pressão elevada 0-50 kV (programado)
Magnificação Óptica: 40-60 ×
Voltagem de entrada AC220V ± 10% 50/60HZ
Visão geral do produto

The HXRF-450S XRF X-ray Fluorescence Coating Painting Thickness Tester is a high-performance instrument designed for precise coating thickness measurement and material analysis across various industries.

Condições de trabalho
  • Temperatura de funcionamento: 15-30°C
  • Umidade relativa: 40%~50%
  • Fornecimento de energia: CA: 220V ± 5V
Desempenho técnico
  • Excelente estabilidade a longo prazo com requisitos mínimos de calibração
  • Não é necessária a preparação de amostras para sistemas de revestimento, amostras sólidas ou líquidas
  • Desempenho abrangente, incluindo análise de revestimento, análise qualitativa/quantitativa, análise de banho e funções estatísticas
Aplicações

Ideal para componentes eletrónicos, semicondutores, PCB, FPC, suportes LED, peças de automóveis, revestimento funcional, peças decorativas, conectores, terminais, artigos sanitários,joalharia e outras indústrias para medição da espessura do revestimento de superfície e análise de materiais.

Características de segurança
  • Interface de utilizador simples com autorização limitada do operador
  • Capacidades de manutenção do supervisor
  • Registros de utilização automáticos do operador
  • Bloqueio automático para evitar operações não autorizadas
  • Sensor de porta da câmara de amostragem
  • Luz de aviso de raios-X
  • Botões de segurança do painel frontal
Características fundamentais
  • Medidas simultâneas de até 5 camadas (4 camadas + substrato)
  • Analisa 15 elementos com correcção automática da linha espectral
  • Alta precisão de medição (até μin) com excelente estabilidade
  • Medição rápida e não destrutiva (até 10 s)
  • Analisa sólidos e soluções com capacidades qualitativas, semi-quantitativas e quantitativas
  • Identificação e detecção da classificação dos materiais
  • Estatísticas de dados abrangentes (média, desvio-padrão, etc.)
  • Opções de saída múltiplas (impressão, PDF, Excel) com relatórios abrangentes
  • Previsão da posição de medição com ampliação óptica de 30 ×
  • Serviço global e apoio técnico
Parâmetros técnicos
Parâmetro Especificações
Faixa de elementos de medição Alumínio (Al) - urânio (U)
Detector SDD
Tipos de colimadores Furo único fixo (0,15 mm, 0,2 mm, 0,5 mm)
Sistema de vias ópticas Irradiação vertical
Magnificação Óptica: 40-60 ×
Modo de exibição Espectro elementar, padrão do rótulo, elementos e valores de medição
Câmara Câmera industrial de alta definição com ampliação local
Aplicações Revestimento único/duplo, revestimento de liga, solução de galvanização
Voltagem de entrada AC220V ± 10% 50/60HZ
Comunicação Transmissão USB de alta velocidade
Dimensões 555*573*573mm (410*478*245mm de cavidade)
Fonte de raios-X Tubo de luz de microfoco de alta precisão (W Target)
Características do software Algoritmo FP, diagnóstico/correção automática de falhas, compensação automática
Configuração padrão
Detector de semicondutores SDD
  • Detectores de semicondutores SDD, refrigerados electricamente
  • Resolução: 129 ± 5 EV
  • Módulo de circuito de amplificação para detecção de raios-X característicos da amostra
Dispositivo de excitação por raios-X
  • Corrente de saída máxima do filamento: 1mA
  • Componente de semi-perda, 50W, arrefecimento por ar
Transmissor de alta pressão
  • Tensão de saída máxima: 50 kV
  • Ajuste de 5 kV mínimo controlado
  • Protecção contra sobrecarga de tensão autónoma
Analisador de Espessura de Revestimento Espectrômetro de Fluorescência de Raios-X por Dispersão de Energia HXRF-450S 0 Analisador de Espessura de Revestimento Espectrômetro de Fluorescência de Raios-X por Dispersão de Energia HXRF-450S 1

etiqueta:

Não - máquina de teste destrutivo,

Equipamento de teste do NDT,

ferramentas da inspeção do ndt

Contacto
HUATEC GROUP CORPORATION

Pessoa de Contato: Ms. Shifen Yuan

Telefone: 8610 82921131,8618610328618

Fax: 86-10-82916893

Envie sua pergunta diretamente para nós (0 / 3000)

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