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Espectrômetro de espessura de revestimento de fluorescência de raios-X de alta estabilidade HXRF-450S

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Espectrômetro de espessura de revestimento de fluorescência de raios-X de alta estabilidade HXRF-450S

Espectrômetro de espessura de revestimento de fluorescência de raios-X de alta estabilidade HXRF-450S
Espectrômetro de espessura de revestimento de fluorescência de raios-X de alta estabilidade HXRF-450S Espectrômetro de espessura de revestimento de fluorescência de raios-X de alta estabilidade HXRF-450S

Imagem Grande :  Espectrômetro de espessura de revestimento de fluorescência de raios-X de alta estabilidade HXRF-450S

Detalhes do produto:
Lugar de origem: China
Marca: HUATEC
Certificação: CE
Número do modelo: HXRF-450S
Condições de Pagamento e Envio:
Quantidade de ordem mínima: 1 unidade
Preço: USD14145/set - USD15990/set
Detalhes da embalagem: Caixa de embalagem de papelão
Tempo de entrega: 10-15 dias úteis após o recebimento do seu pagamento
Termos de pagamento: T/T, Paypal
Habilidade da fonte: 5 conjuntos/mês
Contato

Espectrômetro de espessura de revestimento de fluorescência de raios-X de alta estabilidade HXRF-450S

descrição
Intervalo do elemento de medição:: Alumínio (Al) - urânio (U) Detector: SDD
Tempo de teste: 10-40s Corrente do tubo: 0-1mA (Controlado por programa)
Alta Pressão: 0-50kV (Controlado por programa) Ampliação: Óptica: 40-60×
Tensão de entrada:: AC220V±10% 50/60 Hz
Destacar:

Medidor de espessura do revestimento por fluorescência de raios-X

,

Espectrômetro XRF de alta estabilidade

,

Analisador de espessura de revestimento não destrutivo

Espectrômetro de Espessura de Revestimento por Fluorescência de Raios-X HXRF-450S de Alta Estabilidade
Especificações do Produto
Atributo Valor
Faixa de elementos de medição Alumínio (Al) - Urânio (U)
Detector SDD
Tempo de teste 10-40s
Corrente do tubo 0-1mA (Controlado por programa)
Alta voltagem 0-50kV (Controlado por programa)
Ampliação Óptica: 40-60×
Tensão de entrada AC220V±10% 50/60HZ
Visão Geral do Produto

O Testador de Espessura de Revestimento por Fluorescência de Raios-X HXRF-450S é um instrumento de alto desempenho projetado para medição precisa da espessura de revestimento e análise de materiais em várias indústrias.

Condições de Trabalho
  • Temperatura de operação: 15-30℃
  • Umidade relativa: 40%~50%
  • Fonte de alimentação: AC: 220V ± 5V
Desempenho Técnico
  • Excelente estabilidade a longo prazo com requisitos mínimos de calibração
  • Não é necessária preparação de amostra para sistemas de revestimento, amostras sólidas ou líquidas
  • Desempenho abrangente, incluindo análise de revestimento, análise qualitativa/quantitativa, análise de banho e funções estatísticas
Aplicações

Ideal para componentes eletrônicos, semicondutores, PCB, FPC, suportes de LED, peças automotivas, galvanoplastia funcional, peças decorativas, conectores, terminais, louças sanitárias, joias e outras indústrias para medição de espessura de revestimento de superfície e análise de materiais.

Recursos de Segurança
  • Interface de usuário simples com autorização limitada do operador
  • Capacidades de manutenção do supervisor
  • Registros automáticos de uso do operador
  • Bloqueio automático para prevenção de operação não autorizada
  • Sensor da porta da câmara de amostra
  • Luz de aviso de raios-X
  • Botões de segurança do painel frontal
Principais Recursos
  • Mede até 5 camadas (4 revestimentos + substrato) simultaneamente
  • Analisa 15 elementos com correção automática de linha espectral
  • Alta precisão de medição (até μin) com excelente estabilidade
  • Medição rápida não destrutiva (tão rápida quanto 10s)
  • Analisa sólidos e soluções com capacidades qualitativas, semiquantitativas e quantitativas
  • Identificação de material e detecção de classificação
  • Estatísticas de dados abrangentes (média, desvio padrão, etc.)
  • Múltiplas opções de saída (impressão, PDF, Excel) com relatórios abrangentes
  • Visualização da posição de medição com ampliação óptica de 30×
  • Serviço global e suporte técnico
Parâmetros Técnicos
Parâmetro Especificação
Faixa de elementos de medição Alumínio (Al) - Urânio (U)
Detector SDD
Tipos de colimador Orifício único fixo (0,15mm, 0,2mm, 0,5mm)
Sistema de caminho óptico Irradiação vertical
Ampliação Óptica: 40-60×
Modos de exibição Espectro elemental, padrão de rótulo, elementos e valores de medição
Câmera Câmera industrial de alta definição com ampliação local
Aplicações Revestimento simples/duplo, revestimento de liga, solução de galvanoplastia
Tensão de entrada AC220V±10% 50/60HZ
Comunicação Transmissão USB de alta velocidade
Dimensões 555*573*573mm (cavidade 410*478*245mm)
Fonte de raios-X Tubo de luz de microfoco de alta precisão (Alvo W)
Recursos de software Algoritmo FP, diagnóstico/correção automática de falhas, compensação automática
Configuração Padrão
Detector Semicondutor SDD
  • Detector semicondutor SDD resfriado eletricamente
  • Resolução: 129 ± 5 EV
  • Módulo de circuito de amplificação para detecção de raios-X característicos da amostra
Dispositivo de Excitação de Raios-X
  • Corrente máxima de filamento de saída: 1mA
  • Componente de semi-perda, 50W, resfriamento a ar
Transmissor de Alta Voltagem
  • Tensão máxima de saída: 50kV
  • Ajuste controlável mínimo de 5kV
  • Proteção contra sobrecarga de tensão autônoma
Espectrômetro de espessura de revestimento de fluorescência de raios-X de alta estabilidade HXRF-450S 0 Espectrômetro de espessura de revestimento de fluorescência de raios-X de alta estabilidade HXRF-450S 1

etiqueta:

Não - máquina de teste destrutivo,

Equipamento de teste do NDT,

ferramentas da inspeção do ndt

Contacto
HUATEC GROUP CORPORATION

Pessoa de Contato: Ms. Shifen Yuan

Telefone: 8610 82921131,8618610328618

Fax: 86-10-82916893

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