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Casa ProdutosRaio-X detector de falhas

Detector de defeitos de raios X avançado baseado em sensor de silício amorfo, detector portátil sem fio de painel plano

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Certificado
CHINA HUATEC GROUP CORPORATION Certificações
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produtos de gama ampla de NDT, nós podemos obter todos no grupo huatec. Nós preferimos comprar a partir deles. Rudolf Shteinman Rússia

—— Rudolf Shteinman

Eu gosto do serviço, resposta muito rápida, trabalho profissional. Aret Turquia

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Testador de dureza huatec, muito boa qualidade, estamos muito satisfeitos com o testador de dureza portátil RHL-50. Kumaren Govender Sotuth África

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Detector de defeitos de raios X avançado baseado em sensor de silício amorfo, detector portátil sem fio de painel plano

Detector de defeitos de raios X avançado baseado em sensor de silício amorfo, detector portátil sem fio de painel plano
Detector de defeitos de raios X avançado baseado em sensor de silício amorfo, detector portátil sem fio de painel plano

Imagem Grande :  Detector de defeitos de raios X avançado baseado em sensor de silício amorfo, detector portátil sem fio de painel plano

Detalhes do produto:
Lugar de origem: China
Marca: Huatec
Certificação: ISO,CE
Número do modelo: H3024WCH-HG
Condições de Pagamento e Envio:
Quantidade de ordem mínima: 1pc
Detalhes da embalagem: na caixa de alta qualidade
Tempo de entrega: 7~10 dias após o pagamento
Termos de pagamento: L/C, T/T, Western Union
Habilidade da fonte: 500 por mês.
Contato

Detector de defeitos de raios X avançado baseado em sensor de silício amorfo, detector portátil sem fio de painel plano

descrição
Nome do Produto: Detector do tela plano Área ativa: 239 x 304 mm
Adaptador de entrada: AC 100-240V,50-60Hz Controle da exposição: Software/DAE
Destacar:

Detector de defeitos de raios X de silício amorfo

,

Detector de defeitos de raios X avançado

,

Detector de falhas portátil de raios-X

Detector de defeitos por raios X baseado em sensor de silício amorfo - Detector de painel plano sem fio portátil

 

H3024WCH-HG é um detector de painel plano sem fio portátil baseado em sensor de silício amorfo, adequado para inspeção de dutos, inspeção de segurança, energia e outras áreas.

 

Sensor
Tipo de Receptor: a-Si

Cintilador: CsI:TI

Área Ativa: 239 x 304 mm

Resolução: 2816 x 3584

Tamanho do Pixel: 85 μm

 

Fonte de Alimentação e Bateria

Entrada do Adaptador: CA 100-240V, 50-60Hz

Saída do Adaptador: CC 24V, 2.7A

Consumo de Energia<16 W

Tempo de funcionamento da bateria: 6h

Tempo de carregamento: 4,5 h

 

Qualidade da Imagem
Resolução Limitante: 5,9 LP/mm

Faixa de Energia: 20-160 KV

Faixa Dinâmica: ≥76 DB

 

Componentes Elétricos e Interface
Conversão A/D: 16 bits

Interface de Dados: Gigabit Ethernet

Tempo de Aquisição: com fio: 1s, sem fio: 3s

Distância sem fio: 50m (opcional 500m)

Controle de Exposição Software/AED

Tempo máximo de exposição: 180s

Memória interna: 4 GB DDR4, cartão SD de 8 GB

 

Mecânica
Dimensões: 333,6×322×14,9 mm

Peso: 2,3 kg

Material: Ligas de alumínio e magnésio

Painel Frontal: Fibra de carbono

Margem mínima<5mm

 

Ambiental

Temperatura: 10-35°C (operacional); -10~50°C (armazenamento)

Umidade: 30-70% UR (sem condensação)

Classe IP: IP54 (opcional IP67)

Detector de defeitos de raios X avançado baseado em sensor de silício amorfo, detector portátil sem fio de painel plano 0

 

 

 

 

etiqueta:

máquina da inspeção do raio de x da solda,

visor de filme industrial do raio de x,

detector portátil do raio X

Contacto
HUATEC GROUP CORPORATION

Pessoa de Contato: Ms. Shifen Yuan

Telefone: 8610 82921131,8613910983110

Fax: 86-10-82916893

Envie sua pergunta diretamente para nós (0 / 3000)

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Faixa de detecção de elementos: Modo PMI:Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Zr, Nb, Mo, Rh, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Hf, Ta, Re, Pb e

Objeto da detecção: De origem animal

Métodos analíticos: Método de análise de leitura direta+método de parâmetro básico ((FP)
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